Над 4 милиона заглавия на английски и други езици! Открийте новата си история още днес! Безплатна доставка за поръчки над 69.99€

Проверка на състоянието на поръчката

Станете част от общност от любители на книгите от цял свят и получавате много предимства. Създай на безплатен акаунт

Безплатна доставка със Еконт над 69.99 €

Куриер Speedy 3.49 € Пункт на Speedy 3.49 € ЕКОНТ 3.99 € Еконтомат/Офис на Еконт 3.99 € Ekont Box 3.99 € Sameday 3.99 € Sameday box 3.99 € Box Now 3.99 €

Контакт

Как се пазарува?

Помощ

Моят акаунт

▸ Празна :-(

Practical Guide to Surface Metrology

Name: Practical Guide to Surface Metrology
Brand: Springer Nature Switzerland AG
SKU: 37026987
Price: 106.03 EUR
Availability: InStock
Author: Michael Quinten
ISBN: 9783030294564

Michael Quinten

Език

Английски език

Книга С меки корици

Код Либристо: 37026987

Издателство Springer Nature Switzerland AG, август 2021

This book offers a genuinely practical introduction to the most commonly encountered optical and non... Цялото описание

Код Либристо: 37026987

257 b

106.03 €

207.37 лв

Външен склад Изпращаме след 5-8 дни

До 30 дни за връщане на стоки

Клиентите са закупили също

Dead by Daylight Plush Figure The Trapper 22 cm Игра/играчка

Играчка

44.04 € 86.13 лв

Automatische Modellierung von Waldlandschaften fur virtuelle Welten und mobile Roboter Arnold Bücken

С меки корици

60.80 € 118.91 лв

Die Legende von Korra 4 Michael Dante DiMartino

С меки корици

8.30 € 16.23 лв

Validation clinique d'un questionnaire d'abus-dépendance au cannabis Philippe Arvers

С меки корици

27.43 € 53.65 лв

Dottrine nascoste nel libro di Mormon. Volume 5.: Alma 1 parte. Come funziona il lavoro missionario. Massimo Giuseppe Franceschini

С меки корици

10.31 € 20.16 лв

OEko-Energie in Deutschland M Dengl

С меки корици

9.64 € 18.85 лв

Eläinratavaloa Kimmo Leijala

С твърди корици

16.24 € 31.76 лв

Immer Wenn Ich Glücklich Bin Hochsteinberg Echo

Аудио компактдиск

16.55 € 32.37 лв

This book offers a genuinely practical introduction to the most commonly encountered optical and non-optical systems used for the metrology and characterization of surfaces, including guidance on best practice, calibration, advantages and disadvantages, and interpretation of results. It enables the user to select the best approach in a given context.Most methods in surface metrology are based upon the interaction of light or electromagnetic radiation (UV, NIR, IR), and different optical effects are utilized to get a certain optical response from the surface; some of them record only the intensity reflected or scattered by the surface, others use interference of EM waves to obtain a characteristic response from the surface. The book covers techniques ranging from microscopy (including confocal, SNOM and digital holographic microscopy) through interferometry (including white light, multi-wavelength, grazing incidence and shearing) to spectral reflectometry and ellipsometry. The non-optical methods comprise tactile methods (stylus tip, AFM) as well as capacitive and inductive methods (capacitive sensors, eddy current sensors).