Над 4 милиона заглавия на английски и други езици! Открийте новата си история още днес! Безплатна доставка за поръчки над 69.99€

Проверка на състоянието на поръчката

Станете част от общност от любители на книгите от цял свят и получавате много предимства. Създай на безплатен акаунт

Безплатна доставка със Еконт над 69.99 €

Куриер Speedy 3.49 € Пункт на Speedy 3.49 € ЕКОНТ 3.99 € Еконтомат/Офис на Еконт 3.99 € Ekont Box 3.99 € Sameday 3.99 € Sameday box 3.99 € Box Now 3.99 €

Контакт

Как се пазарува?

Помощ

Моят акаунт

▸ Празна :-(

Advanced Test Methods for SRAMs

Name: Advanced Test Methods for SRAMs
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 01420517
Price: 119.85 EUR
Availability: InStock
Author: Patrick Girard
ISBN: 9781441909374

Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies

Patrick Girard

Alberto Bosio

Luigi Dilillo

Език

Английски език

Книга С твърди корици

Код Либристо: 01420517

Издателство Springer-Verlag New York Inc., октомври 2009

Modern electronics depend on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing... Цялото описание

Код Либристо: 01420517

289 b

119.85 €

234.40 лв

Външен склад в ограничено количество Изпращаме след 13-18 дни

До 30 дни за връщане на стоки

Клиентите са закупили също

Mémoires partagées Bernabé Gil

Digital CD

11.65 € 22.79 лв

A gyermekek játéka és ami mögötte van Kerekes Valéria

С твърди корици

9.17 € 17.93 лв

La Femme Chaude du Milliardaire Rossi

С меки корици

18.60 € 36.37 лв

Chinese Short Stories for Beginners (Part 1) Qing Qing Jiang

С меки корици

48.76 € 95.36 лв

De dokter en de dood Lia van Zuylen

Adobe ePub DRM

75.13 € 146.94 лв

Um casamento muito especial Liz Fielding

Adobe ePub DRM

3.41 € 6.68 лв

irresistible caida del muro de Berlin Fernando Villaverde

С меки корици

24.19 € 47.32 лв

Les Celebracions dominicals en absència de prevere

С меки корици

26.27 € 51.37 лв

Astronomie Populaire, Description Generale Du Ciel. Tome 2 Camille Flammarion

С меки корици

31.24 € 61.10 лв

La consultation avec l'enfant Pierre Delion

Книга

45.18 € 88.36 лв

Wolframio

С меки корици

20.67 € 40.43 лв

El Filosofo Amigo Robert Crosbie

С твърди корици

28.91 € 56.54 лв

Quarteto Fantástico: Ensino de Física e Satisfação Cultural Francisco de Assis Nascimento Junior

С меки корици

47.20 € 92.32 лв

Non rinunciarono: Libro illustrato per bambini Italiano-Bulgaro (Edizione bilingue) Richard Carlson Jr

С меки корици

11.39 € 22.29 лв

Eloge de l'Acacia - Chroniques: Nouvelle Edition revue et augmentée M Andre Moser

С меки корици

12.48 € 24.41 лв

Modern electronics depend on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing and diagnostics. Memories are particularly prone to defects since they exploit the technology limits to get the highest density. This book is an invaluable guide to the testing and diagnostics of the latest generation of SRAM, one of the most widely applied types of memory. Classical methods for testing memory are designed to handle the so-called "static faults," but these test solutions are not sufficient for faults that are emerging in the latest Very Deep Sub-Micron (VDSM) technologies. These new fault models, referred to as "dynamic faults", are not covered by classical test solutions and require the dedicated test sequences presented in this book.