Над 4 милиона заглавия на английски и други езици! Открийте новата си история още днес! Безплатна доставка за поръчки над 69.99€

Проверка на състоянието на поръчката

Станете част от общност от любители на книгите от цял свят и получавате много предимства. Създай на безплатен акаунт

Безплатна доставка със Еконт над 69.99 €

Куриер Speedy 3.49 € Пункт на Speedy 3.49 € ЕКОНТ 3.99 € Еконтомат/Офис на Еконт 3.99 € Ekont Box 3.99 € Sameday 3.99 € Sameday box 3.99 € Box Now 3.99 €

Контакт

Как се пазарува?

Помощ

Моят акаунт

▸ Празна :-(

Advanced VLSI Design and Testability Issues

Name: Advanced VLSI Design and Testability Issues
Brand: Taylor & Francis Ltd
SKU: 28397480
Price: 157.03 EUR
Availability: InStock
Author: Suman Lata Tripathi
ISBN: 9780367492823

Suman Lata Tripathi

Sobhit Saxena

Sushanta Kumar Mohapatra

Език

Английски език

Книга С твърди корици

Код Либристо: 28397480

Издателство Taylor & Francis Ltd, август 2020

This book facilitates the VLSI interested people not only with the in-depth knowledge but the broad... Цялото описание

Код Либристо: 28397480

380 b

157.03 €

307.13 лв

Външен склад Изпращаме след 9-15 дни

До 30 дни за връщане на стоки

Клиентите са закупили също

1939 - Wie der Krieg gemacht wurde Stefan Bollinger

С меки корици

18.64 € 36.46 лв

Depende MARAVILLAS

С меки корици

30.52 € 59.70 лв

This book facilitates the VLSI interested people not only with the in-depth knowledge but the broad aspects of it by explaining its applications in different fields e.g. image processing and biomedical. The deep understanding of basic concepts gives you