Над 4 милиона заглавия на английски и други езици! Открийте новата си история още днес! Безплатна доставка за поръчки над 69.99€

Проверка на състоянието на поръчката

Станете част от общност от любители на книгите от цял свят и получавате много предимства. Създай на безплатен акаунт

Безплатна доставка със Еконт над 69.99 €

Куриер Speedy 3.49 € Пункт на Speedy 3.49 € ЕКОНТ 3.99 € Еконтомат/Офис на Еконт 3.99 € Ekont Box 3.99 € Sameday 3.99 € Sameday box 3.99 € Box Now 3.99 €

Контакт

Как се пазарува?

Помощ

Моят акаунт

▸ Празна :-(

Applied Scanning Probe Methods I

Name: Applied Scanning Probe Methods I
Brand: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
SKU: 01556158
Price: 158.95 EUR
Availability: InStock
Author: Bharat Bhushan
ISBN: 9783540005278

Bharat Bhushan

Harald Fuchs

Sumio Hosaka

Език

Английски език

Книга С твърди корици

Код Либристо: 01556158

Издателство Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG, януари 2004

This volume examines the physical and technical foundation for recent progress in applied near-field... Цялото описание

Код Либристо: 01556158

386 b

158.95 €

310.89 лв

Външен склад Изпращаме след 10-13 дни

До 30 дни за връщане на стоки

Клиентите са закупили също

La Radiacion Al Servicio De La Vida Maria-Ester Brandan

С меки корици

10.78 € 21.08 лв

La vida maravillosa de Dhul Nun, el egipcio Equipo Editorial de Rough Guides

С меки корици

28.42 € 55.59 лв

Greatest Hits & Remixes Valerie Dore

Аудио компактдиск

12.84 € 25.12 лв

Die strukturale Psychopathologie in der Praxis der Gerichtspsychiatrie Rainer Luthe

С меки корици

55.77 € 109.07 лв

Gute Fahrt! 3 Neu - Manuel de l'élève - Allemand 2018 Anne-Laure Bouly

С твърди корици

30.49 € 59.63 лв

The Story of my Life - Beginne zu Leben. Life is a Story - story.one Tanja Huber

С твърди корици

17.12 € 33.49 лв

Basel III und das Risikomanagement der Banken Stefanie Breidenbach

С меки корици

45.24 € 88.49 лв

Jak byla vosa Marcelka ráda, že je Michal Čunderle

С меки корици

11.19 € 21.89 лв

This volume examines the physical and technical foundation for recent progress in applied near-field scanning probe techniques. It constitutes a timely comprehensive overview of SPM applications, now that industrial applications span topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. After laying the theoretical background of static and dynamic force microscopies, including sensor technology and tip characterization, contributions detail applications such as macro- and nanotribology, polymer surfaces, and roughness investigations. The final part on industrial research addresses special applications of scanning force nanoprobes such as atomic manipulation and surface modification, as well as single electron devices based on SPM. Scientists and engineers either using or planning to use SPM techniques willbenefit from the international perspective assembled in the book.