Над 4 милиона заглавия на английски и други езици! Открийте новата си история още днес! Безплатна доставка за поръчки над 69.99€

Проверка на състоянието на поръчката

Станете част от общност от любители на книгите от цял свят и получавате много предимства. Създай на безплатен акаунт

Безплатна доставка със Еконт над 69.99 €

Куриер Speedy 3.49 € Пункт на Speedy 3.49 € ЕКОНТ 3.99 € Еконтомат/Офис на Еконт 3.99 € Ekont Box 3.99 € Sameday 3.99 € Sameday box 3.99 € Box Now 3.99 €

Контакт

Как се пазарува?

Помощ

Моят акаунт

▸ Празна :-(

Applied Scanning Probe Methods II

Name: Applied Scanning Probe Methods II
Brand: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
SKU: 01560759
Price: 159.05 EUR
Availability: InStock
Author: Bharat Bhushan
ISBN: 9783540262428

Scanning Probe Microscopy Techniques

Bharat Bhushan

Harald Fuchs

Език

Английски език

Книга С твърди корици

Код Либристо: 01560759

Издателство Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG, октомври 2005

Volumes II, III and IV examine the physical and technical foundation for recent progress in applied... Цялото описание

Код Либристо: 01560759

386 b

159.05 €

311.08 лв

Външен склад Изпращаме след 10-13 дни

До 30 дни за връщане на стоки

Клиентите са закупили също

David Jiří David

binding.

7.53 € 14.73 лв

Detlev von Liliencron - AEsthetische Studie Franz Oppenheimer

С меки корици

13.31 € 26.04 лв

ANKO KA JADU AMIT GARG

Adobe ePub DRM

11.40 € 22.30 лв

Elogio de la experiencia (Bolsillo) HONORE CARL

С меки корици

13.06 € 25.54 лв

Lernen mit Teo und Tia Deutsch - 1. Klasse Volksschule mit CD Verena Müller

С меки корици

14.55 € 28.46 лв

Umut Yeserdi Baris Yarkadas

С меки корици

13.83 € 27.05 лв

Los enigmas ocultos de Shakespeare Alejandro Polanco

Adobe ePub DRM

24.93 € 48.76 лв

Passover Haggadah Peter Gandolphy

С меки корици

23.69 € 46.34 лв

Die Ganzheit von Wirtschaft, Staat und Gesellschaft. Walter Heinrich

С твърди корици

144.08 € 281.80 лв

Hlas ticha / Voice of Silence Jiří Mazánek

С твърди корици

9.49 € 18.57 лв

Volumes II, III and IV examine the physical and technical foundation for recent progress in applied near-field scanning probe techniques, and build upon the first volume published in early 2004. The field is progressing so fast that there is a need for a second set of volumes to capture the latest developments. It constitutes a timely comprehensive overview of SPM applications, now that industrial applications span topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. Volume II introduces scanning probe microscopy, including sensor technology, Volume III covers the whole range of characterization possibilities using SPM and Volume IV offers chapters on uses in various industrial applications. The international perspective offered in these three volumes - which belong together - contributes further to the evolution of SPM techniques.