Над 4 милиона заглавия на английски и други езици! Открийте новата си история още днес! Безплатна доставка за поръчки над 69.99€

Проверка на състоянието на поръчката

Станете част от общност от любители на книгите от цял свят и получавате много предимства. Създай на безплатен акаунт

Безплатна доставка със Еконт над 69.99 €

Куриер Speedy 3.49 € Пункт на Speedy 3.49 € ЕКОНТ 3.99 € Еконтомат/Офис на Еконт 3.99 € Ekont Box 3.99 € Sameday 3.99 € Sameday box 3.99 € Box Now 3.99 €

Контакт

Как се пазарува?

Помощ

Моят акаунт

▸ Празна :-(

Applied Scanning Probe Methods III

Name: Applied Scanning Probe Methods III
Brand: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
SKU: 01560828
Price: 158.92 EUR
Availability: InStock
Author: Bharat Bhushan
ISBN: 9783540269090

Characterization

Bharat Bhushan

Harald Fuchs

Език

Английски език

Книга С твърди корици

Код Либристо: 01560828

Издателство Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG, февруари 2006

Volumes II, III and IV examine the physical and technical foundation for recent progress in applied... Цялото описание

Код Либристо: 01560828

386 b

158.92 €

310.82 лв

Външен склад Изпращаме след 10-13 дни

До 30 дни за връщане на стоки

Клиентите са закупили също

Pohádka O Horymírovi Lucie Seifertová

С твърди корици

9.12 € 17.85 лв

SYSTEMATISCHE ANLEITUNG OP.200 LIVRE SUR LA MUSIQUE CARL CZERNY Книга

binding.

73.29 € 143.35 лв

Mon carnet de curiosités avec Le Petit Nicolas et Deyrolle Sempé

С твърди корици

26.20 € 51.24 лв

Blutdruck unter körperlicher Belastung M. Anlauf

С меки корици

54.67 € 106.93 лв

Krížom krážom Slovenčina A1 Renáta Kamenárová a kolektiv

С меки корици

37.08 € 72.53 лв

profezia del povero Erasmo Andrea Vitali

С меки корици

21.50 € 42.06 лв

Volumes II, III and IV examine the physical and technical foundation for recent progress in applied near-field scanning probe techniques, and build upon the first volume published in early 2004. The field is progressing so fast that there is a need for a second set of volumes to capture the latest developments. It constitutes a timely comprehensive overview of SPM applications, now that industrial applications span topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. Volume II introduces scanning probe microscopy, including sensor technology, Volume III covers the whole range of characterization possibilities using SPM and Volume IV offers chapters on uses in various industrial applications. The international perspective offered in these three volumes - which belong together - contributes further to the evolution of SPM techniques.