Над 4 милиона заглавия на английски и други езици! Открийте новата си история още днес! Безплатна доставка за поръчки над 69.99€

Проверка на състоянието на поръчката

Станете част от общност от любители на книгите от цял свят и получавате много предимства. Създай на безплатен акаунт

Безплатна доставка със Еконт над 69.99 €

Куриер Speedy 3.49 € Пункт на Speedy 3.49 € ЕКОНТ 3.99 € Еконтомат/Офис на Еконт 3.99 € Ekont Box 3.99 € Sameday 3.99 € Sameday box 3.99 € Box Now 3.99 €

Контакт

Как се пазарува?

Помощ

Моят акаунт

▸ Празна :-(

Applied Scanning Probe Methods XII

Name: Applied Scanning Probe Methods XII
Brand: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
SKU: 01570351
Price: 159.51 EUR
Availability: InStock
Author: Bharat Bhushan
ISBN: 9783540850380

Characterization

Bharat Bhushan

Harald Fuchs

Език

Английски език

Книга С твърди корици

Код Либристо: 01570351

Издателство Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG, ноември 2008

The volumes XI, XII and XIII examine the physical and technical foundation for recent progress in ap... Цялото описание

Код Либристо: 01570351

386 b

159.51 €

311.98 лв

Външен склад Изпращаме след 10-13 дни

30 дни за връщане на стоката

Клиентите са закупили също

Aspekte der Geldpolitik in offenen Volkswirtschaften. Claus Köhler

С твърди корици

78.28 € 153.10 лв

EL LIBRO DE LA LITERATURA

С меки корици

46.44 € 90.82 лв

Statuto: Elenco dei Soci e Degli Associati, Elenco Delle Societ? e Delle Accademie Corrispondenti Societa Entomologica Italiana

С твърди корици

26.92 € 52.65 лв

Exakt diese Worte: Mehr Einfluss, mehr Wirkung, mehr Erfolg Patrick Lynen

С меки корици

10.61 € 20.75 лв

Mucha Daniel Kiecol

С твърди корици

14.23 € 27.84 лв

Délits d'encre n° 15 - Hommage à Marc Leclerc collegium

С меки корици

14.28 € 27.94 лв

anima e il corpo. Un'introduzione storica alla filosofia della mente Sandro Nannini

С меки корици

23.81 € 46.57 лв

The volumes XI, XII and XIII examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. The first volume came out in January 2004, the second to fourth volumes in early 2006 and the fifth to seventh volumes in late 2006. The field is progressing so fast that there is a need for a set of volumes every 12 to 18 months to capture latest developments. These volumes constitute a timely comprehensive overview of SPM applications.After introducing scanning probe microscopy, including sensor technology and tip characterization, chapters on use in various industrial applications are presented. Industrial applications span topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials.The chapters have been written by leading researchers and application scientists from all over the world and from various industries to provide a broader perspective.