Над 4 милиона заглавия на английски и други езици! Открийте новата си история още днес! Безплатна доставка за поръчки над 69.99€

Проверка на състоянието на поръчката

Станете част от общност от любители на книгите от цял свят и получавате много предимства. Създай на безплатен акаунт

Безплатна доставка със Еконт над 69.99 €

Куриер Speedy 3.49 € Пункт на Speedy 3.49 € ЕКОНТ 3.99 € Еконтомат/Офис на Еконт 3.99 € Ekont Box 3.99 € Sameday 3.99 € Sameday box 3.99 € Box Now 3.99 €

Контакт

Как се пазарува?

Помощ

Моят акаунт

▸ Празна :-(

Assessing Fault Model and Test Quality

Name: Assessing Fault Model and Test Quality
Brand: Springer
SKU: 01398119
Price: 119.58 EUR
Availability: InStock
Author: Kenneth M. Butler
ISBN: 9780792392224

Kenneth M. Butler

M. Ray Mercer

Език

Английски език

Книга С твърди корици

Код Либристо: 01398119

Издателство Springer, октомври 1991

For many years, the dominant fault model in automatic test pattern gen eration (ATPG) for digital in... Цялото описание

Код Либристо: 01398119

289 b

119.58 €

233.87 лв

Външен склад в ограничено количество Изпращаме след 13-18 дни

До 30 дни за връщане на стоки

Клиентите са закупили също

Angielski 365 na każdy dzień Lekszycka Maria

С меки корици

16.33 € 31.94 лв

Белые ночи Федор Достоевский

С твърди корици

16.69 € 32.65 лв

Kavárna nad Prahou Lenka Reinerová

С твърди корици

6.35 € 12.43 лв

Otra vez tú Talia Hibbert

С меки корици

17.78 € 34.77 лв

Nézd meg milyen egy kert! Anna Milbourne

Дипляна

8.63 € 16.88 лв

Raeliana - Warum sie die Verlobte des Dukes wurde 08 Milcha

С меки корици

14.99 € 29.31 лв

Gazdagabb, bölcsebb, boldogabb William Green

С твърди корици

15.40 € 30.12 лв

Dejiny pornografie Goran Tribuson

С меки корици

10.75 € 21.02 лв

Spanische Kurzestgeschichten/Cuentos brevisimos Erna Brandenberger

С меки корици

11.58 € 22.64 лв

Die Göttliche Komödie Wilhelm G. Hertz

С меки корици

14.37 € 28.10 лв

Juego Oculto de la Digitalizacion Ana Bastida

С меки корици

25.33 € 49.54 лв

MALYE HIRURGIChESKIE VMEShATEL'STVA V POLOSTI RTA U PACIENTOV S OSLOZhNENNYM MEDICINSKIM SOSTOYaNIEM Gaurav Mittal

С меки корици

33.91 € 66.32 лв

Das Paradies als Garten oder der Garten als Paradies Lieselotte von Eltz-Hoffmann

С твърди корици

42.65 € 83.41 лв

La pagoda blanca, cien poemas de la Dinastía Tang

С меки корици

26.83 € 52.47 лв

Bolestivá menstruace II collegium

С меки корици

3.98 € 7.78 лв

Considerations Nouvelles Sur La Pluralite Des Mondes DE KIRWAN-C

С меки корици

13.70 € 26.79 лв

Tinto de verano ELVIRA LINDO

С меки корици

25.84 € 50.55 лв

Język angielski zawodowy w budownictwie Zeszyt ćwiczeń Kucz Marlena

С меки корици

18.97 € 37.10 лв

MONTAILLOU EMMANUEL LE ROY LADURIE

С твърди корици

30.34 € 59.35 лв

RESISTE CYRIL DION

С твърди корици

21.71 € 42.46 лв

Cuentos Naturales Carlos Fuentes

С меки корици

21.35 € 41.75 лв

Numerische Simulation der schädigungswirksamen Beanspruchungsverläufe von Kopfbolzendübeln im Verbundbrückenbau unter natürlicher Verkehrsbeanspruchun Christian Gilcher

С меки корици

103.96 € 203.34 лв

Kaputte Suppe Jenny Valentine

С меки корици

10.59 € 20.72 лв

Ihr sollt die Wahrheit erben Anita Lasker-Wallfisch

С меки корици

13.44 € 26.28 лв

For many years, the dominant fault model in automatic test pattern gen eration (ATPG) for digital integrated circuits has been the stuck-at fault model. The static nature of stuck-at fault testing when compared to the extremely dynamic nature of integrated circuit (IC) technology has caused many to question whether or not stuck-at fault based testing is still viable. Attempts at answering this question have not been wholly satisfying due to a lack of true quantification, statistical significance, and/or high computational expense. In this monograph we introduce a methodology to address the ques tion in a manner which circumvents the drawbacks of previous approaches. The method is based on symbolic Boolean functional analyses using Or dered Binary Decision Diagrams (OBDDs). OBDDs have been conjectured to be an attractive representation form for Boolean functions, although cases ex ist for which their complexity is guaranteed to grow exponentially with input cardinality. Classes of Boolean functions which exploit the efficiencies inherent in OBDDs to a very great extent are examined in Chapter 7. Exact equa tions giving their OBDD sizes are derived, whereas until very recently only size bounds have been available. These size equations suggest that straight forward applications of OBDDs to design and test related problems may not prove as fruitful as was once thought.

Героиня & Полиглот

EWA KASP за

Пусни видеото

В Libristo има най-богатия избор от чуждоезична литература. Затова купувам книгите си тук.

Информация за книгата

Пълно заглавие Assessing Fault Model and Test Quality

Автор Kenneth M. Butler, M. Ray Mercer

Език

Английски език

Корици Книга - С твърди корици

Дата на издаване 1991

Брой страници 132

Баркод 9780792392224

ISBN 0792392221

Код Либристо 01398119

Издателство Springer

Тегло 880

Размери 155 x 235 x 13

Може би ще Ви заинтересува

Psychology Handbook: Volume VII Daphne Hopkins

С твърди корици

129.24 € 252.78 лв

KJV, Gift and Award Bible, Imitation Leather, White, Red Letter Edition Thomas Nelson

Книга

8.42 € 16.47 лв

Bats Heimo Mikkola

С твърди корици

121.39 € 237.41 лв

Gospel Chronicle Kirschke G.L. Kirschke

С меки корици

81.89 € 160.16 лв

When the Gods were Men Kerry L Barger

С твърди корици

25.79 € 50.45 лв

The Ordinary of Newgate, His Account of the Behaviour, Confessions, Dying Words of the Malefactors, Who Were Executed at Tyburn, on Wednesday the 2D o Anonymous

С меки корици

12.66 € 24.76 лв