Над 4 милиона заглавия на английски и други езици! Открийте новата си история още днес! Безплатна доставка за поръчки над 69.99€

Проверка на състоянието на поръчката

Станете част от общност от любители на книгите от цял свят и получавате много предимства. Създай на безплатен акаунт

Безплатна доставка със Еконт над 69.99 €

Куриер Speedy 3.49 € Пункт на Speedy 3.49 € ЕКОНТ 3.99 € Еконтомат/Офис на Еконт 3.99 € Ekont Box 3.99 € Sameday 3.99 € Sameday box 3.99 € Box Now 3.99 €

Контакт

Как се пазарува?

Помощ

Моят акаунт

▸ Празна :-(

Atom-Probe Field Ion Microscopy

Name: Atom-Probe Field Ion Microscopy
Brand: Cambridge University Press
SKU: 02018080
Price: 70.98 EUR
Availability: InStock
Author: Tien T. Tsong
ISBN: 9780521019934

Field Ion Emission, and Surfaces and Interfaces at Atomic Resolution

Tien T. Tsong

Език

Английски език

Книга С меки корици

Код Либристо: 02018080

Издателство Cambridge University Press, септември 2005

Atom-probe field ion microscopy is currently the only technique capable of imaging solid surfaces wi... Цялото описание

Код Либристо: 02018080

172 b

70.98 €

138.82 лв

Външен склад Изпращаме след 9-15 дни

30 дни за връщане на стоката

Клиентите са закупили също

Joker - L'Homme qui cessa de rire ROSENBERG Matthew

С твърди корици

50.48 € 98.72 лв

Puglia

С меки корици

31.73 € 62.06 лв

Akce K Petr Blažek

С твърди корици

26.61 € 52.04 лв

Max et Lili veulent rester en vacances SAINT MARS (DE)

С твърди корици

9.73 € 19.03 лв

Konzervy se slovy Petr Szczepanik

С твърди корици

15.11 € 29.56 лв

Resentimiento y Apocalipsis : ensayo sobre el antisemitismo nazi Philippe Burrin

С меки корици

22.26 € 43.53 лв

Vom Glück, mit der Natur zu leben Edith Holden

С твърди корици

18.17 € 35.53 лв

Blitzschutzsysteme. Tl.1 Jürgen Wettingfeld

С меки корици

34.11 € 66.72 лв

Des Moyens Pratiques de Ramener A Ses Limites Naturelles La Mortalite Du Premier Age En France Mayer-A

С меки корици

13.72 € 26.82 лв

Konstruktion Und Implementierung Von Schulprogrammen - Ein Triangulativer Forschungsansatz Michaela Köller

С меки корици

98.83 € 193.30 лв

OEkonomik Der Warmeenergien Karl Schmidt

С меки корици

55.96 € 109.46 лв

Marketing Fur Die Generation X Klaus Scherer

С меки корици

39.97 € 78.17 лв

Atom-probe field ion microscopy is currently the only technique capable of imaging solid surfaces with atomic resolution, and at the same time of chemically analysing surface atoms selected by the observer from the field ion image. Field ion microscopy has been successfully used to study most metals and many alloys, and recently good field ion images of some semiconductors and even ceramic materials such as high temperature superconductors have been obtained. Although other microscopies are capable of achieving the same resolution, there are some experiments unique to field ion microscopy - for example the study of the behaviour of single atoms and clusters on a solid surface. The elegant development of the field ion microscope with the atom probe has provided a powerful and useful technique for highly sensitive chemical analysis. This book presents the basic principles of atom-probe field ion microscopy and illustrates the various capabilities of the technique in the study of solid surfaces and interfaces at atomic resolution. A useful comparison is given with two related techniques, electron microscopy and scanning tunnelling microscopy. The book will be of interest to scientists working on surfaces and interfaces of materials at the atomic level and will provide a useful reference for those using this technique.