Не ви допада? Няма проблеми! Можете да върнете стоките до 30 дни
Няма да сбъркате с подаръчен ваучер. Получателят може да избере нещо от нашия асортимент с подаръчен ваучер.
До 30 дни за връщане на стоки
Atomic Force Microscopy (AFM) measures the forces between a tip and the substrate and maps the substrate surface topography and properties based on the measurement of tip-substrate interactions. This volume contains the papers on AFM techniques.
Здравейте! Аз съм Libroamiko, вашият книжен съветник.
Как мога да ви помогна?