info@libristo.bg
LIBRISTO 0
Безплатна доставка със Speedy над 129 лв
Box Now 9 лв Speedy office 11 лв Speedy 13 лв ЕКОНТ 6 лв Еконтомат/Офис на Еконт 6 лв
phone Контакт phoneКак се пазарува?

CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

Език Английски езикАнглийски език
Книга С твърди корици
Книга CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies Andrei Pavlov
Код Либристо: 01418343
Издателство Springer-Verlag New York Inc., май 2008
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of top... Цялото описание
? points 575 b
455 лв
Външен склад в ограничено количество Изпращаме след 12-17 дни

30 дни за връщане на стоката

Може би ще Ви заинтересува

TOP
Our Violent Ends CHLOE GONG / С меки корици
common.buy 24 лв
TOP
The Oxygen Advantage Patrick McKeown / С меки корици
common.buy 39 лв
TOP
Batman Vol. 3: Death of the Family (The New 52) Scott Snyder / С меки корици
common.buy 34 лв
TOP
House of Hollow / С меки корици
common.buy 17 лв
The 7 1/2 Deaths of Evelyn Hardcastle Stuart Turton / С меки корици
common.buy 35 лв
Naked Pussy On Funny Chairs / С твърди корици
common.buy 198 лв
Rogan Simon Rogan / С твърди корици
common.buy 75 лв
Master of Crows Grace Draven / С меки корици
common.buy 34 лв
Scottish Gaelic Tattoo Handbook Emily (Ph.D. in Anthropology from University of Chicago; former editor of the Small Languages and Small Language Communities section of the Internatio / С меки корици
common.buy 25 лв
Curse of the Wendigo Rick Yancey / С меки корици
common.buy 29 лв
Villainous Vol. 1 Stonie Williams / С меки корици
common.buy 31 лв
Punk Rock John Robb / С меки корици
common.buy 57 лв
Twin-to-Twin Transfusion Syndrome Daniel W Skupski / С твърди корици
common.buy 411 лв
A Modest Proposal Jonathan Swift / С меки корици
common.buy 19 лв
Achieve CAPM Exam Success Diane Altwies / С меки корици
common.buy 179 лв
Figure of Dante Jerome Mazzaro / С твърди корици
common.buy 229 лв

CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies.

Информация за книгата

Пълно заглавие CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Автор Andrei Pavlov, Manoj Sachdev
Език Английски език
Корици Книга - С твърди корици
Дата на издаване 2008
Брой страници 194
Баркод 9781402083624
ISBN 1402083629
Код Либристо 01418343
Издателство Springer-Verlag New York Inc.
Тегло 468
Размери 166 x 239 x 19

Категории

Technology, Engineering, Agriculture > Electronics & communications engineering > Electronics engineering > Electronics: circuits & components
Technology, Engineering, Agriculture > Technology: general issues > Engineering: general
Computing & Information Technology > Computer hardware > Storage media & peripherals
Computing & Information Technology > Computer science > Computer architecture & logic design
Подарете тази книга днес
Лесно е
1 Добавете книгата в количката си и изберете Доставка като подарък 2 В замяна ще ви изпратим ваучер 3 Книгата ще пристигне на адреса на получателя

Вход

Влезте в акаунта си. Още нямате акаунт за Libristo? Създайте го сега!

 
задължително
задължително
Забравена парола

Нямате акаунт? Използвайте предимствата на акаунта за Libristo!

Благодарение на акаунта за Libristo държите всичко под контрол.

Създаване на акаунт за Libristo