info@libristo.bg
Ще ви отговорим до 24 часа
Безплатна доставка със Speedy над 129 лв
Box Now 9 лв
Speedy office 11 лв
Speedy 13 лв
ЕКОНТ 6 лв
Еконтомат/Офис на Еконт 6 лв
Контакт
Как се пазарува?
Помощ
Доставка
Box Now 9 лв
Speedy office 11 лв
Speedy 13 лв
ЕКОНТ 6 лв
Еконтомат/Офис на Еконт 6 лв
Безплатна доставка със Speedy над 129 лв
Наръчник за пазаруване
Тук сме за Вас!
info@libristo.bg
Моят акаунт
Станете част от общност от любители на книгите от цял свят и получавате много предимства.
Създай на безплатен акаунт
▸
Празна :-(
0
Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology
Език
Английски език
Английски език
Книга
С твърди корици
Silicon dioxide plays a central role in most contemporary electronic and photonic technologies, from...
Цялото описание
Код Либристо: 01396617
?
702 b
702 b
556
лв
Външен склад в ограничено количество
Изпращаме след 12-17 дни
30 дни за връщане на стоката
Може би ще Ви заинтересува
/
С меки корици
81
лв
Silicon dioxide plays a central role in most contemporary electronic and photonic technologies, from fiber optics for communications and medical applications to metal-oxide-semiconductor devices. Many of these applications directly involve point defects, which can either be introduced during the manufacturing process or by exposure to ionizing radiation. They can also be deliberately created to exploit new technologies. This book provides a general description of the influence that point defects have on the global properties of the bulk material and their spectroscopic characterization through ESR and optical spectroscopy.
Информация за книгата
Пълно заглавие
Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology
Език
Английски език
Английски език
Корици
Книга - С твърди корици
Дата на издаване
2000
Брой страници
624
Баркод
9780792366850
ISBN
0792366859
Код Либристо
01396617
Издателство
Springer
Тегло
2340
Размери
155 x 235 x 38
