Над 4 милиона заглавия на английски и други езици! Открийте новата си история още днес! Безплатна доставка за поръчки над 69.99€

Проверка на състоянието на поръчката

Станете част от общност от любители на книгите от цял свят и получавате много предимства. Създай на безплатен акаунт

Безплатна доставка със Еконт над 69.99 €

Куриер Speedy 3.49 € Пункт на Speedy 3.49 € ЕКОНТ 3.99 € Еконтомат/Офис на Еконт 3.99 € Ekont Box 3.99 € Sameday 3.99 € Sameday box 3.99 € Box Now 3.99 €

Контакт

Как се пазарува?

Помощ

Моят акаунт

▸ Празна :-(

Design for Testability, Debug and Reliability

Name: Design for Testability, Debug and Reliability
Brand: Springer Nature Switzerland AG
SKU: 35705730
Price: 119.52 EUR
Availability: InStock
Author: Sebastian Huhn
ISBN: 9783030692087

Sebastian Huhn

Език

Английски език

Книга С твърди корици

Код Либристо: 35705730

Издателство Springer Nature Switzerland AG, април 2021

This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated... Цялото описание

Код Либристо: 35705730

289 b

119.52 €

233.76 лв

Външен склад Изпращаме след 10-13 дни

До 30 дни за връщане на стоки

Клиентите са закупили също

Violine Für Kinder: Weihnachtslieder, Klassische Musik, Kinderlieder, Traditionelle Lieder Und Volkslieder! Javier Marco

С меки корици

12.16 € 23.78 лв

Aberglaube des Mittelalters Heinrich Br. Schindler

С меки корици

37.78 € 73.90 лв

Ja, mama i nasi zwariowani przyjaciele Raud Piret

С твърди корици

6.26 € 12.24 лв

MEISTER DES FRUHBAROCK FLUTE A BEC HANS-MARTIN LINDE Печатни материали

Ноти

25.15 € 49.19 лв

Приключения барона Мюнхаузена Р. Распе

С твърди корици

9.36 € 18.31 лв

Smart Metering Christian Schäfer

С меки корици

42.55 € 83.21 лв

Znaky a symboly: Ilustrovaný sprievodca ich pôvodom a významom neuvedený autor

С твърди корици

33.28 € 65.09 лв

Erotische Ölgemälde - Handgemalt im altmeisterlichen Stil (Wandkalender 2026 DIN A4 hoch), CALVENDO Monatskalender Calvendo

Календар

20.75 € 40.59 лв

This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications. The authors describe new measures to address the rising challenges in the field of design for testability, debug, and reliability, as strictly required for state-of-the-art circuit designs. In particular, this book combines formal techniques, such as the Satisfiability (SAT) problem and the Bounded Model Checking (BMC), to address the arising challenges concerning the increase in test data volume, as well as test application time and the required reliability. All methods are discussed in detail and evaluated extensively, while considering industry-relevant benchmark candidates. All measures have been integrated into a common framework, which implements standardized software/hardware interfaces.