Над 4 милиона заглавия на английски и други езици! Открийте новата си история още днес! Безплатна доставка за поръчки над 69.99€

Проверка на състоянието на поръчката

Станете част от общност от любители на книгите от цял свят и получавате много предимства. Създай на безплатен акаунт

Безплатна доставка със Еконт над 69.99 €

Куриер Speedy 3.49 € Пункт на Speedy 3.49 € ЕКОНТ 3.99 € Еконтомат/Офис на Еконт 3.99 € Ekont Box 3.99 € Sameday 3.99 € Sameday box 3.99 € Box Now 3.99 €

Контакт

Как се пазарува?

Помощ

Моят акаунт

▸ Празна :-(

Electromigration Inside Logic Cells

Name: Electromigration Inside Logic Cells
Brand: Springer International Publishing AG
SKU: 19821903
Price: 61.21 EUR
Availability: InStock
Author: GRACIELI POSSER
ISBN: 9783319840413

Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS

GRACIELI POSSER

Език

Английски език

Книга С меки корици

Код Либристо: 19821903

Издателство Springer International Publishing AG, юли 2018

This book describes new and effective methodologies for modeling, analyzing and mitigating cell-inte... Цялото описание

Код Либристо: 19821903

148 b

61.21 €

119.71 лв

Външен склад в ограничено количество Изпращаме след 13-18 дни

30 дни за връщане на стоката

Клиентите са закупили също

La Légende Oubliée de Stellaéon GAUDOU LABERGRIS

С меки корици

20.35 € 39.79 лв

Central De Flexiones Rahul Mookerjee

Adobe ePub DRM

38.63 € 75.55 лв

Manuale Di Python Per Principianti Barbara De Palma

С меки корици

20.35 € 39.79 лв

Metalog FieldBook Daniela Voss

С меки корици

40.70 € 79.60 лв

130 desserts minceur et gourmands Thérèse Ellul-Ferrari

С меки корици

22.78 € 44.55 лв

Journaux de jeunesse Anaïs Nin

С меки корици

52.66 € 103.00 лв

Pontes Gesamtband 1 (ab 2020) Vokabel-Lernbox zum Schulbuch 1. Lernjahr. Lektion 1-11

С меки корици

19.05 € 37.26 лв

Verbraucherschlichtungsstellen in Deutschland Marcellus Schmidt

С меки корици

14.29 € 27.94 лв

Nürnberg - 1.000 Teile (Puzzle)

Игра

33.34 € 65.22 лв

Alteridad y ética desde el descubrimiento de América Alfredo Gómez-Muller

С меки корици

13.72 € 26.83 лв

typische Kindsmoerderin? Die soziale Lage der Frauen in der fruhen Neuzeit und die moeglichen Folgen René Aderhold

С меки корици

15.27 € 29.87 лв

This book describes new and effective methodologies for modeling, analyzing and mitigating cell-internal signal electromigration in nanoCMOS, with significant circuit lifetime improvements and no impact on performance, area and power. The authors are the first to analyze and propose a solution for the electromigration effects inside logic cells of a circuit. They show in this book that an interconnect inside a cell can fail reducing considerably the circuit lifetime and they demonstrate a methodology to optimize the lifetime of circuits, by placing the output, Vdd and Vss pin of the cells in the less critical regions, where the electromigration effects are reduced. Readers will be enabled to apply this methodology only for the critical cells in the circuit, avoiding impact in the circuit delay, area and performance, thus increasing the lifetime of the circuit without loss in other characteristics.