Над 4 милиона заглавия на английски и други езици! Открийте новата си история още днес! Безплатна доставка за поръчки над 69.99€

Проверка на състоянието на поръчката

Станете част от общност от любители на книгите от цял свят и получавате много предимства. Създай на безплатен акаунт

Безплатна доставка със Еконт над 69.99 €

Куриер Speedy 3.49 € Пункт на Speedy 3.49 € ЕКОНТ 3.99 € Еконтомат/Офис на Еконт 3.99 € Ekont Box 3.99 € Sameday 3.99 € Sameday box 3.99 € Box Now 3.99 €

Контакт

Как се пазарува?

Помощ

Моят акаунт

▸ Празна :-(

Experimental Characterization Techniques for Micro/Nanoscale Devices

Name: Experimental Characterization Techniques for Micro/Nanoscale Devices
Brand: Springer Verlag GmbH
SKU: 11409206
Price: 149.19 EUR
Availability: InStock
Author: Kimberly L. Turner
ISBN: 9780387308623

Kimberly L. Turner

Peter G. Hartwell

Език

Английски език

Книга С твърди корици

Код Либристо: 11409206

Издателство Springer Verlag GmbH, февруари 2007

Characterization Techniques for Micro/Nanoscale Devices introduces commonly utilized and import... Цялото описание

Код Либристо: 11409206

362 b

149.19 €

291.80 лв

50% вероятност Ще претърсим света Кога ще получа книгата?

До 30 дни за връщане на стоки

Клиентите са закупили също

Indice - Maths 2de - 2023 - manuel - élève Jean-Louis Bonnafet

С твърди корици

42.54 € 83.20 лв

Wander dich glücklich - Nördlicher Schwarzwald Lars Freudenthal

С меки корици

18.15 € 35.50 лв

Dinamica de los gases Sergio Elaskar

С меки корици

28.26 € 55.26 лв

Die besten Hundepfleger - Folge 7 Die Kinder vom Sonnenscheinhof

Аудио компактдиск

14.49 € 28.33 лв

Romy Schneider Johannes Thiele

С твърди корици

32.28 € 63.13 лв

Un dictateur en images. Photographies de Heinrich Hoffmann Alain Sayag

С меки корици

33.93 € 66.36 лв

Le Labyrinthe au bord de la mer Zbigniew Herbert

С меки корици

27.53 € 53.85 лв

The Outpost - Die komplette Serie (Alle 4 Staffeln), 12 DVDs Milan Todorovic

DVD

46.98 € 91.88 лв

Der Osten Des Ostens Wolfgang Stephan Kissel

С твърди корици

94.99 € 185.79 лв

Nouvelles De La République Des Lettres, Volume 2... Pierre Bayle

С меки корици

15.57 € 30.45 лв

Die Hauptpflicht Des Katholischen Deutschland (1868) Konrad Martin

С меки корици

21.19 € 41.45 лв

L'Academie Royale de Musique Au Xviiie Siecle. Documents Inedits Des Archives Nationales. Tome 1 CAMPARDON-E

С меки корици

30.11 € 58.90 лв

Kult-Rocksongs der 70er-Jahre Susi Weiss

Ноти

23.05 € 45.08 лв

Parrkirche in Ramsau (Puzzle) Alexander von Düren

Игра

31.97 € 62.53 лв

GRACIAS POR LA MUSICA. PORTADAS DE CD Y CASSETTE HECHAS EN CASA CASTELLANO-FRANCES-INGLES Carbonell Pallarés

С меки корици

28.41 € 55.57 лв

ENCUENTRO CON EL MAL Y SU SUPERACIÓN EN LA CIENCIA ESPIRITUAL Prokofieff

С меки корици

20.98 € 41.04 лв

Abduktives Denken und talmudische Argumentation Ronen Reichman

С твърди корици

188.13 € 367.95 лв

Soulmotion Natasa/Vasilic Mirkovic-De Ro

Аудио компактдиск

23.00 € 44.98 лв

Procesamiento de la señal de Radar en tiempo real en un FPGA Enrique Escamilla-Hernandez

С меки корици

46.20 € 90.37 лв

Balder Hugo Marti

С твърди корици

23.62 € 46.19 лв

Characterization Techniques for Micro/Nanoscale Devices introduces commonly utilized and important techniques for the dynamic measurement and characterization of MEMS and NEMS devices. It outlines many of the techniques currently available for the test and characterization of MEMS and gives guidance in choosing an adequate technique for monitoring certain signals. After reading this book, MEMs Designers and researchers will be able to determine the best test technique for his/her application, put together a viable experimental setup, complete the measurements, and do appropriate error and/or fatigue analysis on the collected data. TOC:Motivation and History of Test through Examples.- Motivation.- Applications utilizing dynamic MEMS/NEMS.- Device Test/Characterization/Modeling Techniques.- Optical methods for dynamic characterization.- Static and Quasi-static measurements for characterizing MEMS/NEMS.- Actuation Methods.- Parameterization/Modeling.- Characterizing an in-plane MEMS actuator.- Material characterization.- Material Characterization.- Failure of MEMS and Reliability testing.- Specialized Testing and Design of Test experiments.- Specialized test apparatus.- Design for Test.- Appendix.- Quick Tips for MEMS/NEMS testing and design.- Capactitive measurements for MEMS.- Index.

Героиня & Полиглот

EWA KASP за

Пусни видеото

В Libristo има най-богатия избор от чуждоезична литература. Затова купувам книгите си тук.

Информация за книгата

Пълно заглавие Experimental Characterization Techniques for Micro/Nanoscale Devices

Автор Kimberly L. Turner, Peter G. Hartwell

Език

Английски език

Корици Книга - С твърди корици

Дата на издаване 2007

Брой страници 500

Баркод 9780387308623

ISBN 0387308628

Код Либристо 11409206

Издателство Springer Verlag GmbH

Може би ще Ви заинтересува

Early Church Records of Delaware County, Pennsylvania, Volume 1 John Pitts Launey

С меки корици

25.94 € 50.73 лв

Plant Biochemistry Birgit Piechulla

С меки корици

117.01 € 228.86 лв

Information Science and Engineering; Proceedings: International Symposium on Information Science and Engineering (2D: 2009: Shanghai, China) Wen Chen

С меки корици

280.44 € 548.50 лв