Над 4 милиона заглавия на английски и други езици! Открийте новата си история още днес! Безплатна доставка за поръчки над 69.99€

Проверка на състоянието на поръчката

Станете част от общност от любители на книгите от цял свят и получавате много предимства. Създай на безплатен акаунт

Безплатна доставка със Еконт над 69.99 €

Куриер Speedy 3.49 € Пункт на Speedy 3.49 € ЕКОНТ 3.99 € Еконтомат/Офис на Еконт 3.99 € Ekont Box 3.99 € Sameday 3.99 € Sameday box 3.99 € Box Now 3.99 €

Контакт

Как се пазарува?

Помощ

Моят акаунт

▸ Празна :-(

Focused Ion Beam Systems

Name: Focused Ion Beam Systems
Brand: Cambridge University Press
SKU: 02024254
Price: 78.59 EUR
Availability: InStock
Author: Nan Yao
ISBN: 9780521158596

Basics and Applications

Nan Yao

Език

Английски език

Книга С меки корици

Код Либристо: 02024254

Издателство Cambridge University Press, април 2011

The focused ion beam (FIB) system is an important tool for understanding and manipulating the struct... Цялото описание

Код Либристо: 02024254

191 b

78.59 €

153.71 лв

Външен склад Изпращаме след 9-15 дни

До 30 дни за връщане на стоки

Клиентите са закупили също

Death of an Eagle Kirby Jonas Аудиокнига

MP3

26.50 € 51.83 лв

Jagd-Reisefieber Dirk Decker

С твърди корици

22.27 € 43.56 лв

Seurat Delphine Duchêne

С твърди корици

16.65 € 32.57 лв

Meurtre au champagne Theveny

MP3

10.93 € 21.37 лв

Eleonora Akvitánská Jean Flori

С твърди корици

15.05 € 29.44 лв

Love, Mom Iliana Xander

С меки корици

11.91 € 23.29 лв

VIDAS DE NIGROMANTES WILLIAM GODWIN

С меки корици

17.32 € 33.88 лв

Anfechtung im Insolvenzrecht Wolfram Henckel

С твърди корици

166.68 € 325.99 лв

Medizinrecht - Psychopathologie - Rechtsmedizin Hans-Jürgen Kaatsch

С меки корици

101.23 € 197.99 лв

Gleichheitsdiskurs in der Tierrechtsdebatte. Eine kritische Analyse von Peter Singers Forderung nach Menschenrechten f r Grosse Menschenaffen Claudia Heinzelmann

С меки корици

41.87 € 81.89 лв

Essays und Publizistik Manfred Hahn

С твърди корици

146.82 € 287.16 лв

Cyklická žena Miranda Gray

С меки корици

27.53 € 53.85 лв

Flow Mihaly Csikszentmihalyi

С меки корици

20.73 € 40.54 лв

Otcové - dcery, matky - synové Verena Kast

С меки корици

10.36 € 20.26 лв

The focused ion beam (FIB) system is an important tool for understanding and manipulating the structure of materials at the nanoscale. Combining this system with an electron beam creates a DualBeam - a single system that can function as an imaging, analytical and sample modification tool. Presenting the principles, capabilities, challenges and applications of the FIB technique, this edited volume comprehensively covers the ion beam technology including the DualBeam. The basic principles of ion beam and two-beam systems, their interaction with materials, etching and deposition are all covered, as well as in situ materials characterization, sample preparation, three-dimensional reconstruction and applications in biomaterials and nanotechnology. With nanostructured materials becoming increasingly important in micromechanical, electronic and magnetic devices, this self-contained review of the range of ion beam methods, their advantages, and when best to implement them is a valuable resource for researchers in materials science, electrical engineering and nanotechnology.