Контакт
Как се пазарува?
Доставка
Наръчник за пазаруване
High-Resolution X-Ray Scattering
From Thin Films to Lateral Nanostructures
Английски език
232 b
До 30 дни за връщане на стоки
Клиентите са закупили също
/
С меки корици
11.35
€
22.20 лв
The book presents a detailed description of high-resolution x-ray scattering methods suitable for the investigation of the real structure of single-crystalline layers and multilayers, including structure defects in the layers and at the interfaces. Particular attention is devoted to lateral structures in semiconductors and semiconductor multilayers such as quantum wires and quantum dots. Both the theoretical background and the application of the methods are discussed. The second edition is extended to deal with lateral surface nanostructures such as gratings and dots, new examples for measuring layer thickness, lattice mismatch, and surface/interface roughness. The book will be an invaluable source for graduates and scientists.
Информация за книгата
Английски език
Подарете тази книга днес
Лесно е
1 Добавете книгата в количката си и изберете Доставка като подарък 2 В замяна ще ви изпратим ваучер 3 Книгата ще пристигне на адреса на получателяМоже би ще Ви заинтересува
/
С твърди корици
159.05
€
311.08 лв
/
С меки корици
22.66
€
44.32 лв
/
С меки корици
19.20
€
37.55 лв
/
С меки корици
77.43
€
151.45 лв
/
С меки корици
10.17
€
19.88 лв
/
С твърди корици
21.57
€
42.20 лв
/
С твърди корици
5.36
€
10.49 лв
/
С меки корици
78.00
€
152.56 лв
/
С меки корици
50.02
€
97.83 лв
/
С твърди корици
141.40
€
276.55 лв
Здравейте! Аз съм Libroamiko, вашият книжен съветник.
Как мога да ви помогна?