Над 4 милиона заглавия на английски и други езици! Открийте новата си история още днес! Безплатна доставка за поръчки над 69.99€

Проверка на състоянието на поръчката

Станете част от общност от любители на книгите от цял свят и получавате много предимства. Създай на безплатен акаунт

Безплатна доставка със Еконт над 69.99 €

Куриер Speedy 3.49 € Пункт на Speedy 3.49 € ЕКОНТ 3.99 € Еконтомат/Офис на Еконт 3.99 € Ekont Box 3.99 € Sameday 3.99 € Sameday box 3.99 € Box Now 3.99 €

Контакт

Как се пазарува?

Помощ

Моят акаунт

▸ Празна :-(

Ion Beam Surface Layer Analysis

Name: Ion Beam Surface Layer Analysis
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 02253688
Price: 61.1 EUR
Availability: InStock
Author: Otto Meyer
ISBN: 9781461588788

Volume 1

Otto Meyer

Език

Английски език

Книга С меки корици

Код Либристо: 02253688

Издателство Springer-Verlag New York Inc., май 2013

The II. International Conference on Ion Beam Surface Layer Analysis was held on September 15-19, 197... Цялото описание

Код Либристо: 02253688

148 b

61.10 €

119.51 лв

Външен склад в ограничено количество Изпращаме след 13-18 дни

До 30 дни за връщане на стоки

Клиентите са закупили също

ANNAL 09 ABC BREV SUJ COR HIST Guillaume Gicquel

С меки корици

9.20 € 18.00 лв

Big Joe Josef Šmejkal

С твърди корици

3.77 € 7.38 лв

Spätkoloniale Moderne Regina Göckede

С твърди корици

89.25 € 174.56 лв

La circoncision en question

С меки корици

19.04 € 37.23 лв

Kapitalgeberschutz und hybride Finanzierungsinstrumente. Kai-Alexander Heeren

С меки корици

111.24 € 217.57 лв

ZELLZYKLUS S. Prakasam

С меки корици

25.61 € 50.08 лв

Revizor Nikolai Wassiljewitsch Gogol

С меки корици

6.72 € 13.15 лв

CONEX?ES DO PILAR DO IMPLANTE Chandan Kusum

С меки корици

51.84 € 101.39 лв

P?JAROS MOJADOS EN UN CABLE DE LUZ OLVERA

С меки корици

19.35 € 37.84 лв

SIETE AGUJAS DE COSER LUCIA CHACON

Книга

13.76 € 26.91 лв

Bílí ptáci Elda Grinová

Лист

6.05 € 11.83 лв

Catalogue Des Gentilshommes de Bourgogne, Bresse, Bugey, Valromey & Election Des Deputes LA ROQUE-L

С меки корици

13.71 € 26.81 лв

flüchtige monde Yevgeniy Breyger

С твърди корици

16.86 € 32.98 лв

Český jazyk 8 Krausová Zdeňka

С меки корици

4.29 € 8.39 лв

Gegenwartige Antike - antike Gegenwarten Tassilo Schmitt

С твърди корици

70.88 € 138.63 лв

Myšlení vnějšku Michel Foucault

С твърди корици

12.67 € 24.78 лв

Les Effets Du Rayonnement Solaire Sur Le Corps Humain Ludivine Deberly

С меки корици

75.33 € 147.34 лв

Lambacher Schweizer Mathematik 7. Ausgabe Baden-Württemberg

С твърди корици

43.72 € 85.50 лв

Moeglichkeiten und strategische Wettbewerbsvorteile durch Direktmarketing im Internet Barbara Leitner

С меки корици

45.37 € 88.74 лв

Infanzia e storia. Distruzione dell'esperienza e origine della storia Giorgio Agamben

С меки корици

21.52 € 42.09 лв

Aus der Zeit fallen David Grossman

С твърди корици

22.76 € 44.52 лв

Fauna Boica - Durchgedachte Geschichte der in Bayern einheimischen und zahmen Tiere. Bd.1/2 Franz von Pavla Schrank

С меки корици

44.34 € 86.72 лв

Weltuntergang Vincenz Chiavacci

С меки корици

27.06 € 52.92 лв

Deutsche Sagen Jacob Grimm

С меки корици

37.77 € 73.87 лв

The II. International Conference on Ion Beam Surface Layer Analysis was held on September 15-19, 1975 at the Nuclear Research Center, Karlsruhe, Germany. The date fell between two related con ferences: "Application of Ion-Beams to Materials" at Warwick, Eng land and "Atomic Collisions in Solids" at Amsterdam, the Nether lands. The first conference on Ion Beam Surface Layer Analysis was held at Yorktown Heights, New York, 1973. The major topic of that and the present conference was the material analysis with ion beams including backscattering and channeling, nuclear reactions and ion induced X-rays with emphasis on technical problems and no vel applications. The increasing interest in this field was docu mented by 7 invited papers and 85 contributions which were presen ted at the meeting in Karlsruhe to about 150 participants from 21 countries. The oral presentations were followed by parallel ses sions on "Fundamental Aspects", "Analytical Problems" and "Appli cations" encouraging detailed discussions on the topics of most current interest. Summaries of these sessions were presented by the discussion leaders to the whole conference. All invited and contributed papers are included in these proceedings; summaries of the discussion sessions will appear in a separate booklet and are availble from the editors. The application of ion beams to material analysis is now well established.