Над 4 милиона заглавия на английски и други езици! Открийте новата си история още днес! Безплатна доставка за поръчки над 69.99€

Проверка на състоянието на поръчката

Станете част от общност от любители на книгите от цял свят и получавате много предимства. Създай на безплатен акаунт

Безплатна доставка със Еконт над 69.99 €

Куриер Speedy 3.49 € Пункт на Speedy 3.49 € ЕКОНТ 3.99 € Еконтомат/Офис на Еконт 3.99 € Ekont Box 3.99 € Sameday 3.99 € Sameday box 3.99 € Box Now 3.99 €

Контакт

Как се пазарува?

Помощ

Моят акаунт

▸ Празна :-(

Localization in Thin Films

Name: Localization in Thin Films
Brand: VDM Verlag Dr. Müller
SKU: 06826237
Price: 52.54 EUR
Availability: InStock
Author: R. K. Brojen Singh
ISBN: 9783639180091

Theory and Numerical Studies

R. K. Brojen Singh

Език

Английски език

Книга С меки корици

Код Либристо: 06826237

Издателство VDM Verlag Dr. Müller, ноември 2008

The study of the behavior of electronic states in thin films is quite interesting from the following... Цялото описание

Код Либристо: 06826237

127 b

52.54 €

102.77 лв

Налично при издателя, по поръчка Изпращаме след 17-27 дни

30 дни за връщане на стоката

Клиентите са закупили също

Chemische Kommunikation während pilzlicher Interaktion Mareike Richter

С меки корици

63.04 € 123.30 лв

Tocar el cielo Zubieta

MP3

10.03 € 19.61 лв

Carotina baby: Aqua Design Pad

Играчка

24.25 € 47.43 лв

Motivacion Para Emprendedores En Linea Celine Claire

Adobe ePub DRM

3.77 € 7.37 лв

A.L.I.E.N.S. WORLD WAR II Band 1 EK-2 Militär

С меки корици

13.34 € 26.09 лв

Traité de qi gong - un art de santé intégral Edde

С меки корици

44.42 € 86.89 лв

Důkazní břemeno v civilním řízení soudním Petr Lavický

С твърди корици

20.06 € 39.24 лв

Statistiques d''ordre Sup rieur Valeriu Vrabie

С меки корици

55.65 € 108.84 лв

'Wer hier hundert Augen hätte . . .' Elke Freier

Книга

28.96 € 56.64 лв

Lesereise Jerusalem Gil Yaron

С твърди корици

14.48 € 28.31 лв

Logik zur Einführung Wilhelm Büttemeyer

С меки корици

19.03 € 37.22 лв

The study of the behavior of electronic states in thin films is quite interesting from the following point of view, that one can study and understand the remarkable scaling theory predictions in the cross over from two to three dimensions and to look at whether physical picture of interference due to scattering of Bloch states from the impurities is adequate in the more general situation. The role of film thickness in metal insulator transition (MIT) is investigated numerically using finite size scaling and transfer matrix methods. Self-consistent theory is being used to treat this problem and extended the theory to thin films. We also examine the criteria of the phase transition in the presence of magnetic field (B) by investigating critical behavior of localization length and conductivity around MIT line in (B, localization length) plane. Furthermore, we also investigated MIT induced by various other parameters such as inelastic coherence length, temperature, magnetic field and film thickness.