Над 4 милиона заглавия на английски и други езици! Открийте новата си история още днес! Безплатна доставка за поръчки над 69.99€

Проверка на състоянието на поръчката

Станете част от общност от любители на книгите от цял свят и получавате много предимства. Създай на безплатен акаунт

Безплатна доставка със Еконт над 69.99 €

Куриер Speedy 3.49 € Пункт на Speedy 3.49 € ЕКОНТ 3.99 € Еконтомат/Офис на Еконт 3.99 € Ekont Box 3.99 € Sameday 3.99 € Sameday box 3.99 € Box Now 3.99 €

Контакт

Как се пазарува?

Помощ

Моят акаунт

▸ Празна :-(

Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

Name: Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Brand: ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc
SKU: 13595194
Price: 175.33 EUR
Availability: InStock
Author: Pierre-Richard Dahoo
ISBN: 9781848219366

Pierre-Richard Dahoo

Philippe Pougnet

Abdelkhalak El Hami

Език

Английски език

Книга С твърди корици

Код Либристо: 13595194

Издателство ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, август 2016

This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors presen...

Код Либристо: 13595194

424 b

175.33 €

342.91 лв

Външен склад в ограничено количество Изпращаме след 11-15 дни

До 30 дни за връщане на стоки

Клиентите са закупили също

de la Reduction Des Cinq Pour Cent, Et de la Facilite d'Acquitter Les Dettes Sans Auteur

С меки корици

13.07 € 25.57 лв

Parménides César Aira

С меки корици

17.31 € 33.86 лв

Des Innovations Dangereuses En Homoeopathie Alexis Espanet

С твърди корици

26.87 € 52.56 лв

Die Naturkräfte in Den Alpen Oder Physikalische Geographie Des Alpengebirges Friedrich Pfaff

С твърди корици

304.19 € 594.94 лв

This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.