Над 4 милиона заглавия на английски и други езици! Открийте новата си история още днес! Безплатна доставка за поръчки над 69.99€

Проверка на състоянието на поръчката

Станете част от общност от любители на книгите от цял свят и получавате много предимства. Създай на безплатен акаунт

Безплатна доставка със Еконт над 69.99 €

Куриер Speedy 3.49 € Пункт на Speedy 3.49 € ЕКОНТ 3.99 € Еконтомат/Офис на Еконт 3.99 € Ekont Box 3.99 € Sameday 3.99 € Sameday box 3.99 € Box Now 3.99 €

Контакт

Как се пазарува?

Помощ

Моят акаунт

▸ Празна :-(

Nanometer Technology Designs

Name: Nanometer Technology Designs
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 01382894
Price: 108.69 EUR
Availability: InStock
Author: Mohammad Tehranipoor
ISBN: 9780387764863

High-Quality Delay Tests

Mohammad Tehranipoor

Nisar Ahmed

Език

Английски език

Книга С твърди корици

Код Либристо: 01382894

Издателство Springer-Verlag New York Inc., декември 2007

Adopting new fabrication technologies not only provides higher integration and enhances performance,... Цялото описание

Код Либристо: 01382894

263 b

108.69 €

212.58 лв

Външен склад Изпращаме след 10-13 дни

30 дни за връщане на стоката

Клиентите са закупили също

Naposledy se ohlédni Janelle Brown

С твърди корици

12.94 € 25.31 лв

Fahrenheit (PlayStation PS4)

Digital DVD

42.36 € 82.84 лв

Shantaram Gregory David Roberts

Adobe ePub DRM

18.95 € 37.06 лв

maxiprocesso, i pentiti e la trattativa Stato-mafia Nicola Zarbo

С меки корици

21.64 € 42.33 лв

Pokémon - Pokedex de Kanto à Paldea The Pokémon Company

С твърди корици

31.38 € 61.37 лв

Muss das sein, Jonas? Angelika Immerath

С твърди корици

17.14 € 33.51 лв

Beanie Babies Peppa Pig 15 cm

Играчка

8.44 € 16.50 лв

Fysis iónských myslitelů Radim Kočandrle

С меки корици

9.37 € 18.32 лв

Mein bunter Weltatlas Alex Frith

С твърди корици

15.69 € 30.68 лв

Beiträge zu Geschichte und aktueller Situation der Sozialversicherung. Peter A. Köhler

С меки корици

129.20 € 252.69 лв

Kommunikationswissenschaft im internationalen Vergleich Stefanie Averbeck-Lietz

С меки корици

66.18 € 129.43 лв

Musik unterrichten, m. 70 Beilage Georg Biegholdt

С меки корици

29.98 € 58.63 лв

GOOGLE TAG MANAGER IÑAKI GOROSTIZA ESQUERDEIRO

С меки корици

26.04 € 50.94 лв

Druckkammer Axel Schmidt

С меки корици

12.94 € 25.31 лв

Wunschelrute Clemens Nakoinz

С меки корици

25.89 € 50.63 лв

Geschichten von der Fly, m. Audio-CD Dieter Krowatschek

С твърди корици

29.72 € 58.13 лв

Koenig und Witenagemot bei den Angelsachsen Friedrich Purlitz

С меки корици

19.05 € 37.26 лв

Antisemitismus Im Mediendiskurs Helmut Gruber

С меки корици

62.55 € 122.34 лв

Die religiöse und gesellschaftliche Lage der Katholiken in England Nikolaus Wiseman

С меки корици

14.29 € 27.94 лв

SPA-YO POSITIVO MR Gustavo Adolfo Abello Gomez

С меки корици

18.43 € 36.05 лв

Adopting new fabrication technologies not only provides higher integration and enhances performance, but also increases the types of manufacturing defects. With design size in millions of gates and working frequency in GHz timing-related defects havv become a high proportion of the total chip defects. For nanometer technology designs, the stuck-at fault test alone cannot ensure a high quality level of chips. At-speed tests using the transition fault model has become a requirement in technologies below 180nm.§Traditional at-speed test methods cannot guarantee high quality test results as they face many new challenges. Supply noise (including IR-drop, ground bounce, and Ldi/dt) effects on chip performance, high test pattern volume, low fault/defect coverage, small delay defect test pattern generation, high cost of test implementation and application, and utilizing low-cost testers are among these challenges. This book discusses these challenges in detail and proposes new techniques and methodologies to improve the overall quality of the transition fault test.