Над 4 милиона заглавия на английски и други езици! Открийте новата си история още днес! Безплатна доставка за поръчки над 69.99€

Проверка на състоянието на поръчката

Станете част от общност от любители на книгите от цял свят и получавате много предимства. Създай на безплатен акаунт

Безплатна доставка със Еконт над 69.99 €

Куриер Speedy 3.49 € Пункт на Speedy 3.49 € ЕКОНТ 3.99 € Еконтомат/Офис на Еконт 3.99 € Ekont Box 3.99 € Sameday 3.99 € Sameday box 3.99 € Box Now 3.99 €

Контакт

Как се пазарува?

Помощ

Моят акаунт

▸ Празна :-(

Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices

Name: Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 02643825
Price: 54.67 EUR
Availability: InStock
Author: Jay N Zemel
ISBN: 9781475713541

Jay N Zemel

Език

Английски език

Книга С меки корици

Код Либристо: 02643825

Издателство Springer-Verlag New York Inc., септември 2013

From September 19-29, a NATO Advanced Study Institute on Non destructive Evaluation of Semiconductor... Цялото описание

Код Либристо: 02643825

132 b

54.67 €

106.92 лв

Външен склад Изпращаме след 8-11 дни

До 30 дни за връщане на стоки

Клиентите са закупили също

LOS PARIENTES DE ESTER LUIS FAYAD

С твърди корици

19.38 € 37.90 лв

PJ Maskeliler- Kahraman PJ Maskeliler Icin Süper Oyunlar Kolektif

С меки корици

10.80 € 21.13 лв

Olga, córka Wilka Krzyżanowska-Mierzewska Magdalena

С твърди корици

9.76 € 19.10 лв

DEATH IN JUNE - A l'ombre des runes CHIMENTI

С твърди корици

52.79 € 103.26 лв

Die wunderbare Kreativbox Malen nach Zahlen - Urlaubsträume Mila Dierksen

Играчка

20.83 € 40.75 лв

Qigong. Esercizi tradizionali cinesi per la salute Stephen Brown

С меки корици

34.66 € 67.78 лв

La Orden del Temple : un recorrido por la historia de los caballeros templarios desde su origen hasta nuestros días Hugh H. L. Bellot

С меки корици

17.72 € 34.65 лв

Transformacja krajobrazu wschodnich Kujaw w kontekscie zmian uzytkowania ziemi i osadnictwa (1770-1970) Bozena Degorska

С твърди корици

12.10 € 23.67 лв

W rytmie krokow i podskokow z plyta CD Katarzyna Forecka-Wasko

Игра

5.09 € 9.95 лв

Lieblingminne und Freundesliebe in der Weltliteratur Elisarion von Kupffer

С меки корици

14.44 € 28.25 лв

Premiere Charte de Coutumes de Montferrand Thomas-A

С меки корици

13.14 € 25.71 лв

Goethe Hermann Grimm

С меки корици

37.93 € 74.19 лв

Praxis-Tipps Social Intranet 2.0 Oliver Ratajczak

С меки корици

11.74 € 22.96 лв

directrices para la construccion del Derecho de Excepcion Juditas Delany Torrealba Dugarte

С меки корици

74.78 € 146.25 лв

Transaktionsanalyse der Intuition Eric Berne

С меки корици

35.13 € 68.70 лв

Madchenlose Brigitte Augusti

С меки корици

12.47 € 24.38 лв

From September 19-29, a NATO Advanced Study Institute on Non destructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices was held at the Villa Tuscolano in Frascati, Italy. A total of 80 attendees and lecturers participated in the program which covered many of the important topics in this field. The subject matter was divided to emphasize the following different types of problems: electrical measurements; acoustic measurements; scanning techniques; optical methods; backscatter methods; x-ray observations; accele rated life tests. It would be difficult to give a full discussion of such an Institute without going through the major points of each speaker. Clearly this is the proper task of the eventual readers of these Proceedings. Instead, it would be preferable to stress some general issues. What came through very clearly is that the measurements of the basic scientists in materials and device phenomena are of sub stantial immediate concern to the device technologies and end users.