Над 4 милиона заглавия на английски и други езици! Открийте новата си история още днес! Безплатна доставка за поръчки над 69.99€

Проверка на състоянието на поръчката

Станете част от общност от любители на книгите от цял свят и получавате много предимства. Създай на безплатен акаунт

Безплатна доставка със Еконт над 69.99 €

Куриер Speedy 3.49 € Пункт на Speedy 3.49 € ЕКОНТ 3.99 € Еконтомат/Офис на Еконт 3.99 € Ekont Box 3.99 € Sameday 3.99 € Sameday box 3.99 € Box Now 3.99 €

Контакт

Как се пазарува?

Помощ

Моят акаунт

▸ Празна :-(

$Книга Quantitative X-Ray Diffractometry Giora Kimmel$

Quantitative X-Ray Diffractometry

Name: Quantitative X-Ray Diffractometry
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 06624110
Price: 119.85 EUR
Availability: InStock
Author: Giora Kimmel
ISBN: 9781461395379

Giora Kimmel

Език

Английски език

Книга С меки корици

$Книга Quantitative X-Ray Diffractometry Giora Kimmel$

Код Либристо: 06624110

Издателство Springer-Verlag New York Inc., декември 2011

One of the most important techniques for determining the atomic structure of a material is X-ray dif... Цялото описание

Код Либристо: 06624110

289 b

119.85 €

234.40 лв

Външен склад в ограничено количество Изпращаме след 13-18 дни

До 30 дни за връщане на стоки

Клиентите са закупили също

Las sendas de Allah : las cofradías musulmanas desde sus orígenes hasta la actualidad Alexandre Popovic

С меки корици

33.99 € 66.47 лв

Uso responsable de las redes sociales entre los adolescentes: Vera Mnguershima Akem

С меки корици

41.55 € 81.27 лв

Kudrnatá příručka Renata Stiborová

С твърди корици

13.05 € 25.53 лв

Cómo convertirse en un cristiano verdadero: ?Qué significa ser salvo e ir al cielo? Charlie Avila

С меки корици

10.36 € 20.26 лв

Adelante GUIRUD

Книга

25.18 € 49.24 лв

Frauenhandel und Zwangsprostitution in Deutschland Jessica Bangisa

С меки корици

17.15 € 33.54 лв

Erfahrung und Theorie Stephan Körner

С твърди корици

26.89 € 52.59 лв

Lasst sich die Todesstrafe rechtfertigen? Natalia Bokova

С меки корици

17.15 € 33.54 лв

One of the most important techniques for determining the atomic structure of a material is X-ray diffraction. One of the great problems of the technique, however, is the fact that only the intensity of the diffraction pattern can be measured, not its phase. The inverse problem, of determining the structure from the pattern thus contains ambiguities that must be resolved by other means. Quantitative X-ray analysis provides one way to resolve this phase problem: mixing the material in question with a material of known structure yields interferences that can be analyzed to yield the unknown phases. Invented in 1916, but little used at the time, the technique has seen a recent revival due to the development of extremely precise X-ray diffractometers coupled with powerful computers.