Над 4 милиона заглавия на английски и други езици! Открийте новата си история още днес! Безплатна доставка за поръчки над 69.99€

Проверка на състоянието на поръчката

Станете част от общност от любители на книгите от цял свят и получавате много предимства. Създай на безплатен акаунт

Безплатна доставка със Еконт над 69.99 €

Куриер Speedy 3.49 € Пункт на Speedy 3.49 € ЕКОНТ 3.99 € Еконтомат/Офис на Еконт 3.99 € Ekont Box 3.99 € Sameday 3.99 € Sameday box 3.99 € Box Now 3.99 €

Контакт

Как се пазарува?

Помощ

Моят акаунт

▸ Празна :-(

Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis

Name: Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis
Brand: Cambridge University Press
SKU: 02017914
Price: 70.99 EUR
Availability: InStock
Author: Zhong Lin Wang
ISBN: 9780521017954

Zhong Lin Wang

Език

Английски език

Книга С меки корици

Код Либристо: 02017914

Издателство Cambridge University Press, август 2005

In this book the theories, techniques and applications of reflection electron microscopy (REM), refl... Цялото описание

Код Либристо: 02017914

172 b

70.99 €

138.85 лв

Външен склад Изпращаме след 9-15 дни

30 дни за връщане на стоката

Клиентите са закупили също

Jano i Wito. Magiczne słowa Wołoszyn Wiola

С твърди корици

7.56 € 14.78 лв

Jane Eyre

С меки корици

15.79 € 30.88 лв

Hry šťastného dětství Aletha Solterová

С меки корици

10.40 € 20.35 лв

Sato Franz Kafka

С меки корици

16.98 € 33.21 лв

Encyclopedie de L'Islam Tome X T-U: Tome X T-U Th Bianquis

С твърди корици

2 075.46 € 4 059.25 лв

In this book the theories, techniques and applications of reflection electron microscopy (REM), reflection high-energy electron diffraction (RHEED) and reflection electron energy-loss spectroscopy (REELS) are comprehensively reviewed for the first time. The book is divided into three parts: diffraction, imaging and spectroscopy. The text is written to combine basic techniques with special applications, theories with experiments, and the basic physics with materials science, so that a full picture of RHEED and REM emerges. An entirely self-contained study, the book contains much invaluable reference material, including FORTRAN source codes for calculating crystal structures data and electron energy loss spectra in different scattering geometries. This and many other features make the book an important and timely addition to the materials science literature.