Над 4 милиона заглавия на английски и други езици! Открийте новата си история още днес! Безплатна доставка за поръчки над 69.99€

Проверка на състоянието на поръчката

Станете част от общност от любители на книгите от цял свят и получавате много предимства. Създай на безплатен акаунт

Безплатна доставка със Еконт над 69.99 €

Куриер Speedy 3.49 € Пункт на Speedy 3.49 € ЕКОНТ 3.99 € Еконтомат/Офис на Еконт 3.99 € Ekont Box 3.99 € Sameday 3.99 € Sameday box 3.99 € Box Now 3.99 €

Контакт

Как се пазарува?

Помощ

Моят акаунт

▸ Празна :-(

Scale Space and PDE Methods in Computer Vision

Name: Scale Space and PDE Methods in Computer Vision
Brand: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
SKU: 01560545
Price: 108.42 EUR
Availability: InStock
Author: Ron Kimmel
ISBN: 9783540255475

5th International Conference, Scale-Space 2005, Hofgeismar, Germany, April 7-9, 2005, Proceedings

Ron Kimmel

Nir Sochen

Joachim Weickert

Език

Английски език

Книга С меки корици

Код Либристо: 01560545

Издателство Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG, април 2005

This book constitutes the refereed proceedings of the 5th International Conference on Scale Space an... Цялото описание

Код Либристо: 01560545

263 b

108.42 €

212.06 лв

Външен склад Изпращаме след 5-8 дни

До 30 дни за връщане на стоки

Клиентите са закупили също

Patientenrechte in Europa Laura C. Hoffmann

С меки корици

19.21 € 37.57 лв

Etudes Sur Le Syllogisme: Suivies De L'Observation De Platner Et D'Une Note Sur Le Philebe (1907) Jules Lachelier

С меки корици

25.00 € 48.89 лв

Die Orgel In Der Synagoge, Eine Erorterung (1863) David Deutsch

С меки корици

21.23 € 41.51 лв

Levá, pravá, dědek, bába Alena Šotolová

С меки корици

1.13 € 2.21 лв

This book constitutes the refereed proceedings of the 5th International Conference on Scale Space and PDE Methods in Computer Vision, Scale-Space 2005, held in Hofgeismar, Germany in April 2005.§The 53 revised full papers presented were carefully reviewed and selected from 79 submissions. The papers are organized in topical sections on novel linear spaces, image features, deep structure, image processing, medical applications, contours, tensors, non-linear filters, and motion.