Над 4 милиона заглавия на английски и други езици! Открийте новата си история още днес! Безплатна доставка за поръчки над 69.99€

Проверка на състоянието на поръчката

Станете част от общност от любители на книгите от цял свят и получавате много предимства. Създай на безплатен акаунт

Безплатна доставка със Еконт над 69.99 €

Куриер Speedy 3.49 € Пункт на Speedy 3.49 € ЕКОНТ 3.99 € Еконтомат/Офис на Еконт 3.99 € Ekont Box 3.99 € Sameday 3.99 € Sameday box 3.99 € Box Now 3.99 €

Контакт

Как се пазарува?

Помощ

Моят акаунт

▸ Празна :-(

Scanning Electron Microscopy

Name: Scanning Electron Microscopy
Brand: NY RESEARCH PRESS
SKU: 12434612
Price: 132.98 EUR
Availability: InStock
Author: Lisa Page
ISBN: 9781632384065

Lisa Page

Език

Английски език

Книга С твърди корици

Код Либристо: 12434612

Издателство NY RESEARCH PRESS, март 2015

Fine focused electron and ion beams constitute(s) an inevitable part of methods and instruments empl... Цялото описание

Код Либристо: 12434612

321 b

132.98 €

260.09 лв

50% вероятност Ще претърсим света Кога ще получа книгата?

30 дни за връщане на стоката

Клиентите са закупили също

TOUT VA BIEN SE PASSER BRAMI

С меки корици

16.72 € 32.70 лв

Procédures fiscales Thierry Lambert

С меки корици

59.03 € 115.45 лв

Le Programmeur pragmatique Andrew Hunt

С меки корици

46.91 € 91.75 лв

Arbeiter Im Volkswagenwerk Im Dritten Reich Tanja Schwabe

С меки корици

18.12 € 35.44 лв

Porträt des Meisters in mittleren Jahren Colm Toibin

С меки корици

16.72 € 32.70 лв

Un dulce rubor Gil Benítez

С меки корици

27.75 € 54.28 лв

La valse de l'adieu Philippe de Villiers

С меки корици

29.88 € 58.43 лв

Pilates per la riabilitazione. Recuperare dagli infortuni e ottimizzare la funzionalità Samantha Wood

С меки корици

42.67 € 83.45 лв

Mytologická zvířata Tam O'Malleyová

С твърди корици

8.90 € 17.41 лв

Lída Baarová Návraty Jiří Tauchen

С твърди корици

2.38 € 4.65 лв

Zwingli Aimé Richardt

С меки корици

24.54 € 48.00 лв

L'arabe langue vivante Volume 3 Hamida Atoui

Книга

22.11 € 43.24 лв

Mein amerikanischer alpTraum Karl-Heinz Bergbauer

С твърди корици

21.95 € 42.93 лв

Abfindungsorientierte Kuendigungsschutzmodelle Matthias Sandmaier

С меки корици

65.87 € 128.82 лв

Traite Pratique de Magnetisme Humain, Ou Resume de Tous Les Principes Et Procedes Du Magnetisme ROUGET-F

С меки корици

18.43 € 36.05 лв

Fine focused electron and ion beams constitute(s) an inevitable part of methods and instruments employed in various science fields. SEMs are well instrumented and supplemented with advanced techniques and methods and thereby present endless possibilities in the areas of quantitative measurement of object topologies, surface imaging, performing elemental analysis and local electrophysical characteristics of semiconductor structures. Creation of micro and nanostructures involves extensive use of fine focused e-beam. This book focuses on various issues concerned with scanning electron microscopy, covering both theoretical and practical aspects. Numerous topics are organized under two sections, "Material Science" and "Nanostructured Materials for Electronic Industry". This book includes contributions by renowned researchers and experts in this field.