Не ви допада? Няма проблеми! Можете да върнете стоките до 30 дни
Няма да сбъркате с подаръчен ваучер. Получателят може да избере нещо от нашия асортимент с подаръчен ваучер.
До 30 дни за връщане на стоки
Terrestrial neutron-induced soft errors of semiconductor memory devices are currently a major concern in reliability issues. Understanding the mechanism and quantifying soft-error rates are primarily crucial for the design and quality assurance of semiconductor memory devices. This book covers the relevant up-to-date topics in terrestrial neutron-induced soft errors, and aims to provide succinct knowledge on neutron-induced soft errors to the readers by presenting several valuable and unique features.
Здравейте! Аз съм Libroamiko, вашият книжен съветник.
Как мога да ви помогна?