Над 4 милиона заглавия на английски и други езици! Открийте новата си история още днес! Безплатна доставка за поръчки над 69.99€

Проверка на състоянието на поръчката

Станете част от общност от любители на книгите от цял свят и получавате много предимства. Създай на безплатен акаунт

Безплатна доставка със Еконт над 69.99 €

Куриер Speedy 3.49 € Пункт на Speedy 3.49 € ЕКОНТ 3.99 € Еконтомат/Офис на Еконт 3.99 € Ekont Box 3.99 € Sameday 3.99 € Sameday box 3.99 € Box Now 3.99 €

Контакт

Как се пазарува?

Помощ

Моят акаунт

▸ Празна :-(

Transmission Electron Microscope

Name: Transmission Electron Microscope
Brand: In Tech
SKU: 24120292
Price: 145.85 EUR
Availability: InStock
Author: Khan Maaz
ISBN: 9789535104506

Khan Maaz

Език

Английски език

Книга С твърди корици

Код Либристо: 24120292

Издателство In Tech, април 2012

The book "The Transmission Electron Microscope" contains a collection of research articles submitted... Цялото описание

Код Либристо: 24120292

353 b

145.85 €

285.26 лв

Външен склад Изпращаме след 10-13 дни

До 30 дни за връщане на стоки

Клиентите са закупили също

77 Recetas de Comidas Y Jugos Para Prevenir La Perdida de Cabello Joe Correa

С меки корици

20.27 € 39.64 лв

Denkwu¨rdigkeiten des Herzogs Carl von Braunschweig Carl von Anonymus Braunschweig

С меки корици

23.53 € 46.02 лв

Klavye Sürcmesi Terry Pratchett

С меки корици

28.49 € 55.73 лв

Beginner's Serbian Word Searches - Volume 2 Erik Zidowecki

С меки корици

9.41 € 18.40 лв

Madame Favart, comédie en trois actes, mêlée de chant X.-B. Saintine

С меки корици

13.70 € 26.80 лв

The book "The Transmission Electron Microscope" contains a collection of research articles submitted by engineers and scientists to present an overview of different aspects of TEM from the basic mechanisms and diagnosis to the latest advancements in the field. The book presents descriptions of electron microscopy, models for improved sample sizing and handling, new methods of image projection, and experimental methodologies for nanomaterials studies. The selection of chapters focuses on transmission electron microscopy used in material characterization, with special emphasis on both the theoretical and experimental aspect of modern electron microscopy techniques. I believe that a broad range of readers, such as students, scientists and engineers will benefit from this book.