Не ви допада? Няма проблеми! Можете да върнете стоките до 30 дни
Няма да сбъркате с подаръчен ваучер. Получателят може да избере нещо от нашия асортимент с подаръчен ваучер.
До 30 дни за връщане на стоки
This book explains aspects of transmission electron microscopy and x-ray diffractometry that are important for characterization of materials. The 4th edition adds new techniques such as electron tomography, nanobeam diffraction and geometric phase analysis.
Здравейте! Аз съм Libroamiko, вашият книжен съветник.
Как мога да ви помогна?