Над 4 милиона заглавия на английски и други езици! Открийте новата си история още днес! Безплатна доставка за поръчки над 69.99€

Проверка на състоянието на поръчката

Станете част от общност от любители на книгите от цял свят и получавате много предимства. Създай на безплатен акаунт

Безплатна доставка със Еконт над 69.99 €

Куриер Speedy 3.49 € Пункт на Speedy 3.49 € ЕКОНТ 3.99 € Еконтомат/Офис на Еконт 3.99 € Ekont Box 3.99 € Sameday 3.99 € Sameday box 3.99 € Box Now 3.99 €

Контакт

Как се пазарува?

Помощ

Моят акаунт

▸ Празна :-(

X-Ray Diffuse Scattering from Self-Organized Mesoscopic Semiconductor Structures

Name: X-Ray Diffuse Scattering from Self-Organized Mesoscopic Semiconductor Structures
Brand: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
SKU: 01651105
Price: 162.88 EUR
Availability: InStock
Author: Martin Schmidbauer
ISBN: 9783642057694

Martin Schmidbauer

Език

Английски език

Книга С меки корици

Код Либристо: 01651105

Издателство Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG, декември 2010

This monograph represents a critical survey of the outstanding capabilities of X-ray diffuse scatter... Цялото описание

Код Либристо: 01651105

394 b

162.88 €

318.56 лв

Външен склад Изпращаме след 5-8 дни

30 дни за връщане на стоката

Клиентите са закупили също

Tři přednášky o gnozi Jan Kozák

С меки корици

5.43 € 10.62 лв

Moeglichkeiten zur Gestaltung verbindlicher Telekooperation Moritz Strasser

С меки корици

54.82 € 107.23 лв

Pero gelové Pentel EnerGel BL407 - černé 0,7mm v dárkové krabičce

Канцеларски материали

10.76 € 21.05 лв

Großmutters Kräuterapotheke Renate Dittus-Bär

С меки корици

12.42 € 24.29 лв

Histoire de l'Archiduc Albert ( 1693 ) Anonymious

С меки корици

27.90 € 54.57 лв

Gog Giovanni Papini

С меки корици

18.01 € 35.23 лв

Aux Poilus ! Contre La Demoralisation Edouard Poulain

С меки корици

15.53 € 30.37 лв

This monograph represents a critical survey of the outstanding capabilities of X-ray diffuse scattering for the structural characterization of mesoscopic material systems. The mesoscopic regime comprises length scales ranging from a few up to some hundreds of nanometers. It is of particular relevance at semiconductor layer systems where, for example, interface roughness or low-dimensional objects such as quantum dots and quantum wires have attracted much interest. An extensive overview of the present state-of-the-art theory of X-ray diffuse scattering at mesoscopic structures is given followed by a valuable description of various experimental techniques. Selected up-to-date examples are discussed. The aim of the present book is to combine aspects of self-organized growth of mesoscopic structures with corresponding X-ray diffuse scattering experiments.